%0 Journal Article
%T 一种FPGA抗辐射工艺映射方法研究
%A 陈志辉
%A 章淳
%A 王颖
%A 王伶俐
%J 电子学报
%P 2507-2512
%D 2011
%X 提出一种基于部分TMR和逻辑门掩盖的FPGA抗辐射工艺映射算法FDRMap,以及一个基于蒙特卡洛仿真的并行错误注入和仿真平台.该平台和算法已经应用到复旦大学自主研发的FPGA芯片FDP4软件流程的工艺映射模块.实验结果表明,FDRMap能够在增加14.06%LUT数目的前提下,降低电路的抗辐射关键度32.62%;与单纯采用部分TMR的方法相比,在节省12.23%的LUT数目同时,还能额外降低电路关键度12.44%.
%K 现场可编程门阵列
%K 工艺映射
%K 抗辐射
%K 错误仿真
%K 单粒子翻转
%U http://www.ejournal.org.cn/CN/abstract/abstract6250.shtml