%0 Journal Article
%T 磁头内置DFH控制元件可靠性的有限元分析
%A 肖祥慧
%A 彭敏放
%A 黎福海
%A 詹杰
%A 唐荣军
%J 电子学报
%P 2140-2144
%D 2012
%R 10.3969/j.issn.0372-2112.2012.10.040
%X 磁头内置DFH控制元件的可靠性设计评估十分重要,目前工艺上多采用经验数据指导的方法,误差十分大,理论上是根据传统流体力学的基本原理,利用Matlab软件实现模拟评估的,由于元件尺寸限制,模拟算法会随着舍入误差的叠加而失效.本文使用ANSYS软件,通过实验获得建立模型的基本参数,选择了合适的单元类型、材料属性,给出了磁头的有限元模型.利用模型对元件进行的寿命预测实验表明,有限元模型分析DFH控制元件的设计可靠性问题是有效的,并且得出以下结论:在50Ω的新型DFH计算结果中,其热效应强度比传统屏蔽层大10%以上,实际的寿命失败样品问题区域都在线路的转角处.
%K DFH
%K 可靠性分析
%K 有限元
%K 热效应
%K 电流拥挤效应
%U http://www.ejournal.org.cn/CN/abstract/abstract6889.shtml