%0 Journal Article
%T 论有限回溯测试模式产生方法
%A 曾芷德
%A 曹贺锋
%J 电子学报
%P 102-105
%D 2000
%X 本文首先剖析了有限回溯测试模式产生(FBTPG)方法的实质,然后在深入分析三种ATPG系统的C-B曲线的实验数据的基础上,提出故障模拟对测试生成的综合调节效应,为FBTPG方法的有效性提供了理论依据.最后以ISCAS-85和ISCAS-89电路为基础,给出了FBTPG与随机测试生成、确定性测试生成和商用ATPG系统FlexTest的实验比较结果,从而论证了FBTPG方法处理超大规模时序电路的有效性.
%K 有限回溯测试模式产生
%K 确定性测试生成
%K 故障模拟
%U http://www.ejournal.org.cn/CN/abstract/abstract4649.shtml