%0 Journal Article
%T 光电耦合器总剂量辐照的噪声表征
%A 李应辉
%A 陈春霞
%A 蒋城
%A 刘永智
%J 电子学报
%P 1707-1711
%D 2009
%X 本文在研究光电耦合器工作原理、辐照理论及1/f噪声理论的基础上,分析了光电耦合器辐照噪声产生机理及特性,建立了光电耦合器总剂量辐照损伤噪声模型.研究结果表明,随着辐照总剂量增强,LED及光敏管氧化层中引入的氧化层陷阱密度增多,载流子数涨落增强,从而使电压噪声功率谱密度增加.实验结果验证理论分析的正确性,电压噪声功率谱密度可作为光电耦合器辐照损伤表征参量.
%K 光电耦合器
%K 辐照
%K 噪声
%U http://www.ejournal.org.cn/CN/abstract/abstract5479.shtml