%0 Journal Article
%T 一种可应用于并发在线测试的扫描单元设计
%A 俞洋
%A 彭喜元
%A 王帅
%A 王继业
%J 电子学报
%P 1869-1872
%D 2013
%R 10.3969/j.issn.0372-2112.2013.09.033
%X 航天等领域对集成电路可靠性要求较高,要求其具有在线测试功能,以便及时发现故障,减少损失.结合现有扫描设计方法,设计了一种改进的扫描单元结构.将该扫描单元应用于时序电路后,能够在电路工作的同时进行测试;通过灵活的时钟选择机制,方便地控制电路进行非并发和并发测试.仿真实验表明,应用本文提出的扫描单元,时序电路能够在增加一定硬件冗余的条件下实现在线测试,时间开销较小,有较高的可靠性和一定的容错能力,实用性强.
%K 扫描链
%K 扫描单元
%K 在线测试
%K 测试向量
%K 冗余
%U http://www.ejournal.org.cn/CN/abstract/abstract8051.shtml