%0 Journal Article
%T 基于性能退化的电子产品筛选试验设计
%A 钟强晖
%A 张志华
%A 李大伟
%J 电子学报
%P 1788-1793
%D 2013
%R 10.3969/j.issn.0372-2112.2013.09.019
%X 长寿命的电子产品在进行传统环境应力筛选试验时,为了剔除存在早期失效或缺陷的产品,需要将产品长时间置于应力环境下,然而这会对其中的合格品产生较大的老化影响.对于很多电子产品来说,失效是根据性能特征逐渐退化到某个临界值来判定的.为了缩短筛选试验时间,减少筛选应力对产品的老化影响,针对退化型失效产品,本文分析了退化正常产品和退化不正常产品的差异,假设待筛选产品的退化特征量分布为污染分布模型,并给出了一种筛选试验设计方法,利用污染分布的可识别性条件,结合对退化试验的分析确定模型系数,再基于退化数据的可靠性预测方法,确定筛选试验时间和筛选阀值.最后通过实例验证该试验设计的可行性.
%K 退化数据
%K 环境应力筛选
%K 污染分布
%K 非参数估计
%K 试验设计
%U http://www.ejournal.org.cn/CN/abstract/abstract8037.shtml