%0 Journal Article
%T 日食引起的电离层E区不稳定
%A 张训械
%A 熊年禄
%J 地球物理学报
%P 263-268
%D 1981
%X 本文给出了1980年2月16日日全食的高频多卜勒观测结果,发现掩食阶段电离层E区出现三次明显的扰动,生光以后出现两次扰动。利用当时太阳活动区离化源的变化可以解释扰动的主要特征。表明太阳活动区的急剧变化与电离层E区的短期扰动存在很好的对应关系,也就是说,活动区的急剧变化是引起E区不稳定的重要原因之一。
%K 电离层
%K 黑子群
%K 日食效应
%K 掩食
%K 多卜勒频移
%K 离化
%K 电子浓度
%K 太阳活动区
%K 子生成
%K 电子含量
%U http://manu39.magtech.com.cn/Geophy/CN/abstract/abstract5312.shtml