%0 Journal Article
%T 用正电子湮没寿命谱研究热处理对TATB基高聚物粘结炸药微结构的影响
%A 李敬明
%A 田勇
%A 郝小鹏
%A 王宝义
%J 含能材料
%D 2005
%X 用正电子湮没寿命谱仪测试了TATB基高聚物粘结炸药在热处理前后的正电子湮没寿命谱，并就热处理对其内部微结构的影响进行了探讨和分析。结果表明：正电子在TATB基PBX中的湮没模式主要为自由态湮没和捕获态湮没，热处理后其内部微孔隙的数量明显减少，但孔隙的平均尺寸却出现了一定程度的增大。
%K 物理化学
%K 高聚物粘结炸药(PBX)
%K 热处理
%K 正电子湮没寿命谱
%K 微孔隙
%U http://www.energetic-materials.org.cn/hncl/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=20050608&flag=1