%0 Journal Article
%T 不同贮存环境下SCB电极塞的失效机理
%A 付东晓
%A 周德鑫
%A 崔菲菲
%A 张蕊
%A 李庚
%A 李芳
%A 王晟
%A 都振华
%J 含能材料
%D 2015
%R 10.11943/j.issn.1006-9941.2015.02.012
%X 为获取半导体桥(SCB)火工品在长贮过程中的失效模式和失效机理, 用加速寿命试验、电阻试验和扫描电镜试验, 研究了某不镀金SCB电极塞在不同环境下贮存前后的电阻和形貌变化。结果表明, 单一温度(71 ℃)应力未导致SCB电极塞腐蚀和电阻增大。温湿度(80 ℃, RH=95%)应力导致SCB电极塞脚线的缓慢腐蚀和电阻的轻微增大。在温湿度(80 ℃, RH=95%)应力下, 粘有盐水的SCB电极塞贮存后焊点出现严重腐蚀现象。得出了氯离子加速SCB电极塞的腐蚀, 且焊点的腐蚀程度可用SCB电极塞阻值大小来判断的结论，即SCB电极塞的阻值越大, 焊点的腐蚀程度越深
%K 火工品 SCB电极塞 加速寿命试验 腐蚀
%U http://www.energetic-materials.org.cn/hncl/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=2013326&flag=1