%0 Journal Article
%T HTPB推进剂老化机理的分子模拟
%A 杜仕国
%A 秦浩
%A 闫军
%A 李洪广
%A 孟胜皓
%J 含能材料
%D 2014
%R 10.3969/j.issn.1006-9941.2014.03.004
%X 为了研究HTPB推进剂的老化机理,采用量子化学方法,计算了端羟基聚丁二烯-甲苯二异氰酸酯(HTPB-TDI)固化体系中化学键的键能,搜索了HTPB推进剂老化过程中可能发生的四个氧化反应的过渡态。结果表明,与CH2基团相连的C—O键的键能最小,为244.95kJ·mol-1,在老化降解过程最容易发生断裂。老化过程中可能发生的四种氧化交联反应的活化能均较小,小于HTPB-TDI固化分子降解断裂所需要的能量,说明氧化交联反应是HTPB推进剂老化的主要原因,其中生成三元环氧反应的活化能最小,为12.59kJ·mol-1。
%K 高分子化学
%K 老化机理
%K 降解
%K 氧化交联
%K 分子模拟
%U http://www.energetic-materials.org.cn/hncl/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=2013220&flag=1