%0 Journal Article
%T 背减薄工艺对中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件可靠性的影响
%A 田立萍
%A 朱颖峰
%A 刘湘云
%A 郭建华
%J 红外技术
%P 629-631
%D 2013
%R 10.11846/j.issn.1001_8891.201310006
%X 通过对A版（初减薄）和B版（终减薄）中波320×256碲镉汞红外焦平面探测器组件进行可靠性试验，并对其试验后的光电特性进行比较，最终给出B版焦平面探测器组件工作寿命的初步评价。
%K 背减薄
%K 焦平面探测器
%K 工作寿命
%U http://hwjs.nvir.cn/oa/DArticle.aspx?type=view&id=201304015