%0 Journal Article
%T 采用光热失调技术的光学薄膜吸收均匀性测量系统
%A 郝宏刚
%A 周翱
%A 饶敏
%A 阮巍
%J 红外与激光工程
%P 2842-2845
%D 2013
%X 由于大口径光学薄膜的应用越来越广泛，其吸收损耗的均匀性测量越来越重要。文中首次根据光热失调技术的基本原理，使用VisualBasic6.0编写控制程序，搭建一套采用连续激光作为加热光源的光热失调技术的实验系统，实现了样品表面各点光热信号的自动采集与处理，并根据测量结果绘制出用于相对吸收均匀性研究的图像。结果表明该实验系统实现了自动控制，运行稳定、测量准确，能够用于光学薄膜相对吸收均匀性的分析。该系统的建立为光热失调技术的进一步应用提供了实验基础。
%U http://irla.csoe.org.cn/CN/Y2013/V42/I10/2842