%0 Journal Article
%T 红外面阵探测器DTDI技术的性能分析
%A 苏晓锋
%A 潘胜达
%A 龚学艺
%A 杨育周
%A 陈凡胜
%J 红外与激光工程
%P 1025-1031
%D 2014
%X 戽链（BBD）结构的CMOS红外模拟TDI探测器，由于其兼容普通CMOS工艺，并可以提高系统的信噪比，因而在空间遥感领域得到了广泛的应用。而基于焦平面面阵的数字TDI（DigitalTimeDelayandIntegration）技术的研究与应用尚在起步阶段。利用中国生产的320×256中波面阵红外探测器进行DTDI研究，对比分析了模拟TDI探测器的电子转移效率、BBD噪声、动态范围等方面的性能，突出了DTDI在结构和性能上的优势，并通过理论推导了DTDI对面阵探测器本身信噪比的提高，非均匀性的改善，同时分析了DTDI过程中盲元对性能的影响。最后，通过实验得到了16级DTDI的信噪比增加为2.5倍，非均匀性减少到1.68%，验证了DTDI技术对系统性能的改善，为DTDI技术的应用提供了理论参考。
%U http://irla.csoe.org.cn/CN/Y2014/V43/I4/1025