%0 Journal Article
%T 测量薄膜材料n、k、d的一种简单方法
%J 红外与毫米波学报
%D 1986
%X 本文介绍一种测定薄膜材料光学参数的简单方法,该方法根据透过率极值与n、k、d之间的关系算出n、k、d值。用小型机算机很容易实现这个计算。
%U http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=19860305&flag=1