%0 Journal Article
%T TAM单晶相变的热释电特性
%J 红外与毫米波学报
%D 1987
%X 本文报道利用热释电效应测量研究C轴方向单晶样品相变特性。当20℃≤T≤128℃时,用电荷积分法测量,未发现单晶发生相变迹象;当100℃≤T≤170℃时,用等速加热法测量,发现在T=135℃附近热释电电流反向;证实了N.Doshi等给出的TAM晶体的相变温度T_0=134.3℃。
%U http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=19870697&flag=1