%0 Journal Article
%T 薄壁材料的热图无损检测术
%J 红外与毫米波学报
%D 1990
%X 研究了红外热成象技术用于近表面缺陷的探测,给出了对两种薄壁材料中缺陷的探测结果。
%K 红外热成象
%K 无损检测
%K 薄壁材料
%U http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=19900436&flag=1