%0 Journal Article
%T 测量薄膜材料n、H、d的简易方法及其在低温测量中的应用
%J 红外与毫米波学报
%D 1990
%X 介绍了一种测定薄膜材料光学常数的简易方法,它的最大优点是只需要知道薄膜材料的透射光谱。薄膜的光学常数和厚度测试精度优于1%,并给出了PbTe、ZnSe薄膜在室温及低温下的折射率。
%K 薄膜材料
%K 光学常数
%K PbTe
%K ZnSe
%U http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=19900103&flag=1