%0 Journal Article
%T STRIP-LINE测量技术在Ⅳ-Ⅵ族半导体远红外磁光光谱中的应用
%J 红外与毫米波学报
%D 1992
%X 描述了Strip-Line测量技术及其原理.深入讨论了Strip-Line技术在实际应用中模式耦合问题.从实验和理论两方面显示了模式耦合问题在应用Strip-Line技术研究Ⅳ-Ⅵ族铅化物半导体远红外磁光性质中的重要性.
%K 铅化物半导体
%K 远红外
%K 磁光光谱
%U http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=19920565&flag=1