%0 Journal Article
%T 迭层复合材料内缺陷的红外无损检测
%J 红外与毫米波学报
%D 1982
%X 本文采用一种新的红外无损检测方法,即根据试样各点辐射功率的时间变化,来确定迭层复合材料内的空洞缺陷。实验结果表明,这个方法是有效的。
%U http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=19820217&flag=1