%0 Journal Article
%T 半导体中的微微秒和毫微微秒光谱
%J 红外与毫米波学报
%D 1985
%X 本文介绍各种用于半导体物理研究的时间分辨非线性光学测量技术,其中包括热荧光相关测量、透射相关测量、粒子数混合技术、频率上转换技术和激发-探测技术,并给出一些具有代表性的研究成果。
%U http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=19850664&flag=1