%0 Journal Article
%T 用半导体激光器超高速电光采样技术测量微波信号
%J 红外与毫米波学报
%D 1992
%X 利用半导体激光器作为采样光源的超高速电光采样测试系统(时间分辨率最高可达16.7ps,电压灵敏度为0.26mVHz~(-1/2)).测量了1～5GHz的微波信号和同轴电缆传输线的色散展宽.
%K 电光采样半导体激光器微波信号
%U http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=19920114&flag=1