%0 Journal Article
%T HgCdTe多载流子体系的迁移率谱分析
%J 红外与毫米波学报
%D 1998
%X 通过迁移率分析法对ＬＰＥ和ＭＢＥ生成的ｎ－ＨｇＣｄＴｅ样品进行了研究，获得了样品中体电子，体空穴以及界面电子的迁移率和浓度，通过迁移率谱人地获得的样品中体电子和界面电子随温度的变化规律与理论分的完全吻合。
%K 迁移率谱多载流子体系汞镉碲红外探测
%U http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=19980560&flag=1