%0 Journal Article
%T p型碲镉汞液相外延材料Ag掺杂的研究
%J 红外与毫米波学报
%D 2002
%X 利用SIMS和变温霍尔测量手段对P型Hg0.77Gd0.23Te液相外延材料的Ag掺杂技术、机理及掺杂碲镉汞材料的性能进行了研究。结果表明采用AgNO3溶液直接浸泡方式对该材料进行掺Ag是成功的，掺杂浓度与被掺杂材料中的汞空位浓度是一致的，掺杂后，P型碲镉汞材料的受主能级比掺杂前有明显的减小，从实验结果可看到掺Ag碲镉汞材料的电学性能在室温下保持稳定。
%K 霍尔测试二次离子质谱电学性质银掺杂红外探测器P型碲镉汞液相外延材料Ag掺杂
%U http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=20020226&flag=1