%0 Journal Article
%T 采用干涉型光热位移相位信号测量薄膜热扩散率
%J 红外与毫米波学报
%D 2007
%X 介绍了待测样品在激光辐照下光热位移信号的理论表达式,阐述了信号相位与热扩散率以及调制频率之间的关系;基于该关系并结合相关资料,提出了一种新的采用迈克尔干涉检测装置测量热扩散率的简便方法,分析了其相对于传统测量方法的优势.采用该装置对Ti及TiO2复合薄膜样品进行了测量,由光热位移相位信号与调制频率之间的关系,计算得到了待测样品的热扩散率.
%K 热扩散率
%K 光热位移
%K 温度场
%K 相位信号
%K 干涉型
%K 热位移
%K 信号相位
%K 信号测量
%K 薄膜样品
%K 热扩散率
%K SIGNAL
%K PHASE
%K DISPLACEMENT
%K PHOTOTHERMAL
%K FILMS
%K DIFFUSIVITY
%K 计算
%K 检测装置
%K 优势
%K 测量方法
%K 分析
%K 简便方法
%K 迈克尔
%K 资料
%U http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=200706114&flag=1