%0 Journal Article
%T 红外焦平面CMOS读出电路TDI功能的测试方法研究
%J 红外与毫米波学报
%D 2008
%X 给出了一种新颖的红外焦平面CMOS读出电路TDI功能的测试方法.该方法通过在电测试MOS场效应晶体管栅极施加不同波形的方波激励信号,观察输出电压波形的对应变化,验证TDI功能的信号延迟和累加操作是否正确.应用该方法实际测试了一款TDI型红外焦平面CMOS读出电路,各种激励模式下测试得到的输出波形均与预计的理想输出波形吻合,证明该测试方法可行,且简单、直观、有普适性.
%K 时间延迟积分
%K 测试方法
%K 读出电路
%K 红外焦平面
%U http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=20080505&flag=1