%0 Journal Article
%T 氢离子注入法提高InAsP/InP应变多量子阱发光特性
%J 红外与毫米波学报
%D 2008
%X 采用气态源分子束外延系统生长了InAsP/InP应变多量子阱,研究了H注入对量子阱光致发光谱的影响以及高温快速退火对离子注入后的量子阱发光谱的影响.发现采用较低H注入能量(剂量)时,量子阱发光强度得到增强;随着H注入能量(剂量)的增大,量子阱发光强度随之减小.H注入过程中,部分隧穿H会湮灭掉量子阱结构界面缺陷,同时H也会对量子阱结构带来损伤,两者的竞争影响量子阱发光强度的变化.高温快速退火处理后,离子注入后的量子阱样品发光峰位在低温10K相对于未注入样品发生蓝移,蓝移量随着H注入能量或剂量的增大而增加.退火过程中缺陷扩散以及缺陷扩散导致的阱层和垒层之间不同元素互混是量子阱发光峰位蓝移的原因.
%K 离子注入
%K 光致发光
%K 量子阱互混
%U http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=20080416&flag=1