%0 Journal Article %T 梨表面色泽的可见/近红外漫反射光谱无损检测研究 %J 红外与毫米波学报 %D 2008 %X 应用可见/近红外漫反射光谱对梨表面色泽进行无损检测研究.在350~1800nm光谱区间,结合梨的原始吸收光谱和标准化光谱,采用多元线性回归(MLR)、主成分回归(PCR)和偏最小二乘回归(PLSR)三种数学校正算法进行了定量对比分析.原始吸收光谱应用偏最小二乘回归建立的定标模型对24个未知样品的预测结果是:L*、a*、b*预测均方差分别为1.4251,0.4569和0.9497;相对预测偏差分别为3.7404%,3.3571%和2.5877%.实验结果表明:可见/近红外光谱技术对梨表面色泽的无损检测具有可行性. %K 可见/近红外漫反射光谱 %K 无损检测 %K 校正算法 %K 表面色泽 %K 梨 %U http://journal.sitp.ac.cn/hwyhmb/hwyhmbcn/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=20080406&flag=1