%0 Journal Article
%T 双模测量法消除编码孔成像的近场伪影
%A 肖洒
%A 兰明聪
%A 党晓军
%A 张连平
%A 韦孟伏
%J 核技术
%P 80205-80205
%D 2013
%R DOI:10.11889/j.0253-3219.2013.hjs.36.080205
%X 在编码孔成像技术中，由于存在近场伪影的干扰，降低了重建图像质量。为了消除这一影响，本文通过分析近场伪影的产生和消除原理，采用Geant4程序模拟了近场条件下300keV单能?源，通过MURA(19×19)嵌套编码孔成像，分别获得了单模和双模测量条件下重建得到的源分布图像。结果显示，单模测量得到的图像带有显著的近场伪影，而双模测量得到的图像中近场伪影得以消除。实际?相机测量实验也获得了类似的结果。因此，与传统的单模测量法相比，双模测量法可以有效抑制和消除编码孔成像中的近场伪影，从而增强图像信噪比。
%K 双模测量法
%K 编码孔成像
%K 近场伪影
%K Geant4
%U http://www.j.sinap.ac.cn/hejishu/CN/abstract/abstract62.shtml