%0 Journal Article %T 基于蒙特卡罗方法的XRF探测器立体角分析 %A 刘合凡 %A 葛良全 %A 谢希成 %A 赵剑锟 %A 罗耀耀 %J 核技术 %P 60502-60502 %D 2015 %R 10.11889/j.0253-3219.2015.hjs.38.060502 %X 为研究探测器立体角在X射线荧光(X-rayfluorescence,XRF)分析仪的设计对测量结果的影响,运用蒙特卡罗方法对XRF仪进行建模。结果表明,探测器脉冲计数随着探测器与样品之间距离的增大指数衰减;随着探测器立体角的增大,特征峰计数非线性增大,源峰探测效率指数递减;探测器本征探测效率与探测器立体角无关。本文研究方法和结论可为一些XRF仪的设计提供参考。 %K 探测器立体角 %K X荧光分析 %K 蒙特卡罗方法 %K 拟合优度 %U http://www.j.sinap.ac.cn/hejishu/CN/abstract/abstract423.shtml