%0 Journal Article
%T 基于蒙特卡罗方法的XRF探测器立体角分析
%A 刘合凡
%A 葛良全
%A 谢希成
%A 赵剑锟
%A 罗耀耀
%J 核技术
%P 60502-60502
%D 2015
%R 10.11889/j.0253-3219.2015.hjs.38.060502
%X 为研究探测器立体角在X射线荧光(X-rayfluorescence,XRF)分析仪的设计对测量结果的影响，运用蒙特卡罗方法对XRF仪进行建模。结果表明，探测器脉冲计数随着探测器与样品之间距离的增大指数衰减；随着探测器立体角的增大，特征峰计数非线性增大，源峰探测效率指数递减；探测器本征探测效率与探测器立体角无关。本文研究方法和结论可为一些XRF仪的设计提供参考。
%K 探测器立体角
%K X荧光分析
%K 蒙特卡罗方法
%K 拟合优度
%U http://www.j.sinap.ac.cn/hejishu/CN/abstract/abstract423.shtml