%0 Journal Article
%T SiO2陶瓷与TC4钛合金的钎焊研究
%A 张丽霞
%A 吴林志
%A 田晓羽
%A 何鹏
%A 刘多
%A 冯吉才
%J 材料工程
%P 13-16
%D 2008
%X 采用AgCu共晶钎料钎焊SiO2陶瓷与TC4钛合金,形成了良好接头.通过扫描电镜(SEM),能谱分析(EDS)以及X射线衍射分析(XRD)明确了接头生成物,确定了接头界面结构为TC4/Ti2Cu+Ti(s.s)/Ti2Cu/TiCu+Ti3Cu4+Ag(s.s)/Ag(s.s)+Cu(s.s)+TiCu/TiCu+Cu2Ti4O/Al2(SiO4)O+TiSi2/SiO2.研究了钎焊温度和保温时间对界面的影响,结果表明当钎焊温度为850℃,保温时间为5min时,接头抗剪强度最高,其值为30MPa.
%K SiO2陶瓷
%K 钎焊
%K 界面组织
%K 接头强度
%U http://jme.biam.ac.cn/CN/Y2008/V0/I9/13