%0 Journal Article
%T 单晶材料断口结晶学小面的取向测定方法
%A 王建平
%J 材料工程
%P 23-25
%D 1989
%X 本文论述了用X射线衍射仪和扫描电子显微镜对单晶材料断口结晶学小面的取向进行测定的方法,即图象测量标定法.
%U http://jme.biam.ac.cn/CN/Y1989/V0/I4/23