%0 Journal Article
%T SiC晶须形貌质量检测标准
%A 徐桦
%A 郭梦熊
%J 材料工程
%D 1994
%X 本文首次提出碳化硅晶须的形貌质量检测标准,该标准包括晶须的长度、直径、长径比及晶须的表面光洁率、晶须直晶率、晶须中颗粒物含量几个方面的检测,并已在1993年2月被国家“863”高技术结构材料专家组认定,做为我国SiC晶须产品形貌质量的检测标准。
%U http://jme.biam.ac.cn/CN/Y1994/V0/I2/48