%0 Journal Article
%T X射线荧光分析中原级谱分布的计算
%A 赵江滨
%A 何高魁
%A 黄小健
%J 同位素
%P 89-92
%D 2015
%R 10.7538/tws.2015.28.02.0089
%X X射线荧光分析中，X射线管产生的原级谱的分布对荧光分析的影响很大。尤其是在元素间吸收增强效应的校正过程中，基本参数法要求准确获得X射线原级谱的强度分布。使用MCNP程序模拟不同加速电压、不同靶材料、不同铍窗厚度等条件下电子打靶后的X射线能谱分布，为X射线荧光分析仪研制过程优化X光管靶材、管压等提供依据，实现高精度的X射线荧光分析。
%K X射线荧光分析
%K 蒙特卡罗方法
%K 计算谱
%K 原级谱分布
%U http://www.tws.org.cn/CN/abstract/abstract1607.shtml