%0 Journal Article
%T 退火温度对La 1-x Ca x MnO 3 薄膜电输运特性的影响
%A 张雪峰
%A 蒋洪川
%A 李会容
%A 方民宪
%J 四川师范大学学报(自然科学版)
%D 2008
%X 采用磁控溅射法在STO（001）基片上沉积钙钛矿结构LCMO薄膜，研究了退火温度对LCMO薄膜微结构及电输运特性的影响.研究结果表明，随退火温度的升高，薄膜中氧含量及Mn4+/Mn3+比逐渐升高，LCMO薄膜中的Mn4+/Mn3+比与薄膜中的氧含量有关，当氧含量增大时，Mn4+/Mn3+比相应增大.LCMO薄膜的电阻率随退火温度升高而逐渐减小，而LCMO薄膜的金属ˉ绝缘相变温度随退火温度升高而逐渐升高，经850℃退火处理的LCMO薄膜的金属ˉ绝缘相变温度可达257K.
%K LCMO薄膜
%K 退火
%K 氧含量
%K Mn4+/Mn3+比
%K 金属ˉ绝缘相变
%U http://jsnu.paperopen.com/oa/darticle.aspx?type=view&id=200805025