%0 Journal Article
%T 高密度电法长剖面测量应用研究
%A 马德锡
%A 范俊杰
%A 于爱军
%A 陈勇敢
%A 王治华
%A 张峰
%J 黄金科学技术
%P 48-56
%D 2008
%X 勘探线长度大于高密度电法实际探测剖面长度时，可先通过滑动测量和滚动测量两种方法采集数据，再将数据处理融合后进行反演，反演结果为长剖面二维断面图，将其与单条短剖面测量反演结果对比，两种结果反映出的电阻率和充电率异常在形态和位置上对应，长剖面测量反演图像能够突出强度较高的异常，用它实现了对整条勘探线上各异常进行强度对比和异常等级划分。
%K 高密度电法
%K 勘探线
%K 长剖面
%K 滚动测量
%U http://www.goldsci.ac.cn:8080/Jweb-hjkx/CN/abstract/abstract8579.shtml