%0 Journal Article
%T 银含量对射频磁控溅射法制备Ag-TiO_2薄膜能隙和相结构的影响(英文)
%A 孟凡明
%A 鲁飞
%J 硅酸盐学报
%D 2009
%X 采取射频磁控溅射法在硅和石英衬底上淀积Ag–TiO2纳米薄膜,利用X射线衍射仪和紫外可见分光计分析薄膜的相结构和光学性能,研究银含量对Ag–TiO2薄膜相结构和能隙的影响。结果表明银含量影响Ag–TiO2薄膜的相结构,薄膜中的银为金属Ag(Ag0),随着银含量(0～40%,体积分数)的增加,薄膜的能隙先减后增,但是仍然小于纯TiO2薄膜的能隙,银的添加明显地改善了TiO2薄膜对可见光的吸收。
%U http://www.jccsoc.com/Magazine/Show.aspx?ID=17028