%0 Journal Article
%T 高效容错可逆的汉明码编码和检测电路
%A 齐学梅
%A 陈付龙
%A 罗永龙
%J 量子电子学报
%P 586-593
%D 2013
%X 为了检验传输过程中数据的可靠性，设计了容错可逆的汉明码电路。提出了一种新型的可逆逻辑门（FVG），它是一种四变量奇偶保持门能容错，并且完成了FVG门等价的量子实现。利用FVG门和现有的容错可逆门，实现了汉明码编码电路和检测电路。以(7,4)汉明码设计为实例，根据量子代价和延迟对其进行性能评估，结果证明该电路比现有电路的性能提高10%?20%，仿真实验结果显示，电路逻辑结构正确，性能可靠。
%K 量子信息
%K 可逆逻辑
%K 容错
%K 汉明码
%K FVG门
%K 编码和检测
%U http://lk.hfcas.ac.cn/CN/abstract/abstract8924.shtml