%0 Journal Article
%T 一种用于MEMS动态测量的最优盒计数分形维数算法
%A 罗元
%A 蒋秋照
%A 张毅
%J 重庆邮电大学学报(自然科学版)
%D 2012
%X 在微机电系统（microelectromechanicalsystem，MEMS）的动态测量中，利用分形插值法可以提高MEMS器件面内位移测量的精度，利用图像边缘的分形特征，还可以实现离面位移和旋转角度的测试。而分形维数（fractaldimension）的计算又是这些方法的关键。在研究目前最常用的分形维数计算方法差分盒计数法（differenceboxcounting,DBC）的基础上，提出了一种对“空盒子”不予计数的最优盒计数分形维数算法，克服了差分盒计数法存在“空盒子”被计数的缺陷。理论分析和实验结果表明，该算法获得的分形维数更接近于理论维数。
%K 分形维数
%K 最优盒计数法
%K MEMS
%K 动态测量
%U http://journal.cqupt.edu.cn/jcuptnse/jcuptnse/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=20120221&flag=1