%0 Journal Article
%T 铜负载Y分子筛中Cu物种的表征及分析
%A 王玉春
%A 郑华艳
%A 李梦云
%A 李忠
%J 化工进展
%P 1933-1940
%D 2015
%R 10.16085/j.issn.1000-6613.2015.07.020
%X 综述了铜负载Y分子筛(CuY)中Cu物种表征及分析的研究进展,重点阐述了近年来X射线衍射分析(XRD)、透射电子显微镜分析(TEM)、X射线光电子能谱分析(XPS)、H2程序升温还原(H2-TPR)、原位红外光谱(CO-IR和NO-IR)、电子顺磁共振(ESR)等表征方法在CuY中Cu物种的微观结构分析方面取得的进展。还对制备方法对CuY中Cu物种落位和性能的影响进行了综述,指出综合采用这些表征方法,得到CuY中Cu物种状态、价态、落位及含量等更加全面、准确的信息,进而选择合适的制备方法调控CuY中Cu物种存在状态、价态及落位,制备出性能更佳的CuY是今后发展的方向。
%K CuY催化剂
%K 表面
%K 铜物种
%K 存在状态
%K 价态
%K 分布
%K 表征分析
%U http://www.hgjz.com.cn/CN/abstract/abstract17376.shtml