%0 Journal Article
%T 断层构造在层测深曲线上的响应特征
%A 石亚丁
%J 煤田地质与勘探
%D 2010
%X 应用数值模拟方法研究了巷道层测深技术应用的环境及影响因素，分析了断层构造在层测深曲线上的响应特征。结果表明，在煤层为高阻，顶、底板为低阻的情况下，巷道层测深技术对断层构造具有良好的分辨率，并且煤层与其顶、底板的视电阻率差异越大，对断层构造的分辨率越高；煤层厚度和断层与巷道的夹角等因素也对探测断层构造的分辨率有一定的影响。
%K 巷道层测深
%K 断层
%K 响应特征
%U http://mtdz.jourserv.com/front/PaperInfo.aspx?PaperID=4431