%0 Journal Article
%T FRS-XRSA表征双轴取向聚对苯二甲酸乙二酯薄膜的取向分布
%A 吕文琦
%A 胡家璁
%J 高分子学报
%P 641-649
%D 1996
%X Ｘ－射线散射理论分析（ＦＲＳ－ＸＲＳＡ）是作者为了研究和表征取向高聚物结晶度与晶粒取向分布（ＯＤＣ）的一种新方案．在表征ＯＤＣ方面应用分峰法（ＣＰＲ）消除了传统极图法（ＰＦＭ）中高重叠峰相互干扰的困难,克服了取向分布函数分析（ＯＤＦＡ）中出现虚织构的困难,并且经一次系统的ＦＲＳ－ＸＲＳ测定,可以得到几乎所有主要（ｈｋｌ）晶面法向的ＯＤＣ．作者应用ＦＲＳ－ＸＲＳＡ对二类双轴取向ＰＥＴ磁带薄膜进行了ＯＤＣ的研究。基于结晶几何学原理（ＣＧＰ）,建立了三斜晶系晶粒坐标系与试样坐标系的关系,并用于推演未测定方位角（αｉ,βｉ）（ｈｋｌ）的晶面散射以及未测（ｈ′ｋ′ｌ′）晶面的ＯＤＣ．作者关系建立了双轴取向函数〈ｃｏｓ２φｈｋｌ,ｉ〉,ｉ＝Ｎ、Ｍ、Ｔ的计算公式．按照ＦＲＳ－ＸＲＳＡ获得了反映取向分布的１０个晶面的双轴极图、三个主晶面（１００）、（０１０）、（１０５）的总极图,以及反映平均取向的各种取向函数,如〈ｃｏｓ２φｈｋｌ,ｉ〉、ｆｃｈｋｌ,ｉ等,结果十分令人满意．
%K ＦＲＳ－ＸＲＳＡ
%K 双轴取向ＰＥＴ
%K 双轴极图
%K 极图
%K ｆｃｈｋｌ
%K ｉ
%U http://www.gfzxb.org/CN/abstract/abstract9606.shtml