%0 Journal Article
%T 基于序进应力加速试验评价器件寿命的方法
%J 北京工业大学学报
%D 2007
%X 基于对序进应力加速寿命试验的研究,提出了一种快速确定半导体器件寿命的方法,建立了理论模型．以样品3CG120为例,进行了175～345℃范围内的序进应力加速寿命试验,快速提取样品的失效敏感参数hFE的退化量与温度的关系,得到了样品的hFE的温度特性和退化特性,并根据模型计算得到器件的失效激活能和寿命．结果与文献能很好地吻合,验证了该方法的可行性．
%K 寿命试验
%K 激活能
%K 可靠性
%U http://www.bjgd.cbpt.cnki.net/WKA/WebPublication/paperDigest.aspx?paperID=DDE0DA0B-1B78-4EF6-900C-D332F46453B8