%0 Journal Article
%T 晶粒取向3%Si-Fe畴结构的应力效应——Ⅰ.张力对畴结构的影响
%A 罗阳
%A 王振琴
%J 金属学报
%P 49-154
%D 1983
%X 本文用粉纹法仔细研究了晶粒取向3％Si-Fe中几种典型畴结构在张应力作用下的变化过程,阐明了不同类型畴结构变化的特点及规律,揭示了张应力使畴细化的机理,并导出了畴宽随张力变化的公式,从畴结构应力效应的角度,解释了损耗极小值对应的最佳倾角等重要的实验事实。
%U http://www.ams.org.cn/CN/Y1983/V19/I2/49