%0 Journal Article
%T 低温电解渗硫层及其形成机理的XPS研究
%A 王当憨
%A 伍岩
%J 金属学报
%P 100-103
%D 1983
%X 本文的XPS(X射线光电子能谱)结果揭示了,渗硫层中的主要成分并非为人们通常认为的仅是FeS(?)一种,而是FeS和FeSO_3两种,并且二者的相对含量基本相等。
%U http://www.ams.org.cn/CN/Y1983/V19/I6/100