%0 Journal Article
%T 关于X射线衍射法测定微观应力的表征值的讨论
%A 张定铨
%A 何家文
%J 金属学报
%P 1273-1278
%D 1998
%X 本文以Macherauch内应力分类法为依据，指出存在于各个晶粒的第Ⅱ类内应力（即微观应力）的值是一个随机变量．通常由X射线衍射线的线形分析获得的所谓微观应力值只是第Ⅱ类内应力的离差；而导致衍射线附加位移的伪宏观应力是其均值.综合两者才是材料中第Ⅱ类内应力的确切表达
%K 内应力
%K 微观应力
%K 伪宏观应力
%K X射线法
%U http://www.ams.org.cn/CN/Y1998/V34/I12/1273