%0 Journal Article
%T 用双面氧化弯曲方法测定Al2O3膜生长应力
%A 李美栓
%A 钱余海
%A 辛丽
%A 周龙江
%J 金属学报
%P 618-622
%D 1999
%X 提出了一种测定氧化膜生长应力的双面氧化弯曲方法,经不象常规弯曲法那样为防止试样一个侧在发生氧化度制保护除层,因而可用于较高温度及较长时间的氧化情况并可测定Ａｌ２Ｏ３膜的生长应力,由于高温下合金及薄氧化膜发生蠕变,从而释放膜内应力.新方法应用于合金的蠕变数据,并采用数值计算来获得氧化膜应力值.
%K 生长应力
%K 弯曲法
%K 蠕变
%K 氧化
%K 氧化铝膜
%U http://www.ams.org.cn/CN/Y1999/V35/I6/618