%0 Journal Article
%T GaN场发射高分辨电子显微像的图像处理-显示GaN中原子分辨率晶体缺陷的可能性
%A 王怀斌
%A 李方华
%J 金属学报
%P 589-592
%D 2002
%X 本文介绍了场发射高分辨电子显微像的图像处理原理,用300kV场发射电子显微镜的参数模拟了GaN完整晶体和缺陷晶体结构模型的显微像.经过处理的显微像上能够分辨间距为0.112nm的Ga和N原子,并能显示N原子空位.
%K GaN
%K 晶体缺陷
%K 高分辨电子显微学
%U http://www.ams.org.cn/CN/Y2002/V38/I6/589