%0 Journal Article
%T 纳秒脉冲下温度、频率对尼龙6电老化的影响
%A 王涛
%A 王珏
%A 严萍
%A 冉慧娟
%J 高电压技术
%P 1334-1341
%D 2015
%R 10.13336/j.1003-6520.hve.2015.04.035
%X 尼龙6作为绝缘材料经过长时间运行后,绝缘性能会受老化的影响而劣化。目前对此类绝缘材料的研究多集中在常温和工频下,在ns脉冲条件下的研究较少。为了研究温度、频率对尼龙6中电树枝引发的影响,实验采用了固态ns脉冲发生器MPC50D为激励源,其具有30ns的下降沿和70ns的脉冲宽度;使用温度循环实验箱SP-80U控制实验温度。实验的温度设定为-40~60℃,频率设定为20~1500Hz。实验结果表明温度对尼龙6中的电树枝引发电压有明显的影响,随温度的升高电树枝引发电压下降明显;频率对电树枝的影响并不明显,只在200Hz以下出现了较明显的趋势;尼龙6、聚四氟乙烯(PTFE)和有机玻璃(PMMA)中的电树枝形态差异巨大,尼龙6中为丛林形,PTFE中为树枝形,PMMA中为层裂形;ns脉冲下击穿通道出现了放电引发的扇形结构。实验数据为尼龙6在ns脉冲下的绝缘应用提供了参考。
%K 尼龙6
%K 电树枝
%K ns脉冲
%K 电老化
%K PTFE
%K PMMA
%U http://hve.epri.sgcc.com.cn/CN/abstract/abstract181.shtml