%0 Journal Article
%T 基于高光谱成像技术的柑橘缺陷无损检测
%A 章海亮
%A 高俊峰
%A 何勇
%J 农业机械学报
%P 177-181
%D 2013
%R 10.6041/j.issn.1000-1298.2013.09.031
%X 应用高光谱成像技术无损检测柑橘的缺陷。选取蒂腐、黑斑、褐腐、结痂缺陷果和正常果各30个，提取并分析了5类果皮感兴趣区域光谱曲线并结合主成分分析法确定2个最佳波长(615nm和680nm)，然后基于特征波长作主成分分析，选取第2主成分作为分类识别图像，提出采用特征波长主成分分析法与波段比算法相结合的方法，识别率达到94%。试验结果表明,高光谱成像技术可以有效地对带有蒂腐、黑斑、褐腐、结痂缺陷的柑橘进行分类识别。
%K 柑橘
%K 缺陷检测
%K 高光谱成像
%K 主成分分析
%U http://www.j-csam.org/jcsam/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=20130931&flag=1