%0 Journal Article
%T 小扰动稳定域微分拓扑学性质初探:(二)小扰动稳定域内部空洞出现机理分析
%A 贾宏杰
%A 余晓丹
%J 电力系统自动化
%D 2005
%X 对所发现的小扰动稳定域内部存在空洞现象进行了机理分析，力图找到这一现象出现的原因。对分岔问题进行深入分析后，发现算例系统小扰动稳定域内部空洞现象的产生是由该系统的Hopf分岔退化现象导致的，而空洞区域的破裂和最后消失则与该系统不同Hopf分岔曲线的相交有关。该研究思路和研究方法，希望能对进一步探求真实电力系统小扰动稳定域的微分拓扑学性质起到一定的启示作用。
%K 微分拓扑学性质
%K 小扰动稳定域
%K 电力系统
%K 分岔分析
%U http://www.aeps-info.com/aeps/ch/reader/view_abstract.aspx?file_no=13651&flag=1